透射電鏡全角度三維重構樣品桿

簡(jiǎn)要描述:透射電鏡全角度三維重構樣品桿在搭載直徑3 mm銅網(wǎng)的傳統三維重構樣品臺的基礎上延伸,采用彈頭的單軸旋轉方式進(jìn)行繞樣品臺全角度360°觀(guān)察,可以接受棒狀或圓錐形樣品。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2023-12-27
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量: 3423

詳細介紹


TEM其它-全角度三維重構.png

CHIPNOVA Single-tilt Tomography Holders(全角度三維重構樣品桿)在普通三維重構樣品桿的基礎上升級而來(lái),采用圓錐形單軸360°旋轉方式,全角度得到樣品更多二維成像信息,避免鍥形信息丟失。



我們的優(yōu)勢

創(chuàng )新設計

1.高強度鈦合金特殊結構設計,高精度加工,經(jīng)久耐用。

2.C型針尖創(chuàng )新結構設計,保證銅網(wǎng)穩定性,不會(huì )對EDS分析造成干擾。

3.可替換式針尖,方便同一樣品在TEM、FIB、AP等多平臺轉移,獲取更全面信息。


高質(zhì)量成像

1.單軸針尖可360°高精度旋轉,獲取更多二維成像信息,避免鍥形信息丟失。

2.C型針尖為3mmHalf-Grid設計,α角最大旋轉角度為±90°,避免樣品陰影,提供高質(zhì)量層析成像數據。



技術(shù)參數

類(lèi)別項目參數
基本參數桿體材質(zhì)高強度鈦合金
樣品直徑棒狀、圓錐形、3mm Half-Grid
漂移率<0.5 nm/min(穩定狀態(tài))
分辨率電鏡極限分辨率
兼容電鏡Thermo Fisher/FEI,JEOL,Hitachi
(HR)TEM/STEM支持
(HR)EDS/EELS/SAED支持




   







應用案例

電子斷層掃描對納米尺度地質(zhì)材料的三維分析

參考文獻來(lái)源:Three-dimensional Analyses of Geological Materials on Nanoscale by Electron Tomography[J]. Atomic Spectroscopy, 2022.

<a class=


最大傾斜角度為±54°、間隔為6°的一系列傾斜圖像重建結果。


638259658486059471187.jpg


同一樣品的元素和氧化態(tài)重構模型的3D視圖。












產(chǎn)品咨詢(xún)

留言框

  • 產(chǎn)品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯(lián)系電話(huà):

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說(shuō)明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫(xiě)阿拉伯數字),如:三加四=7
微信掃一掃
版權所有©2024 廈門(mén)超新芯科技有限公司 All Rights Reserved    備案號:閩ICP備19013696號-2    sitemap.xml    管理登陸    技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)    
久久夜色精品国产噜噜亚洲AV,亚洲一区二区三区国产精华液,亚洲第一成人网站,久久久久亚洲AV无码专区首JN